| Название | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания |
|---|---|
| Аннотация | Стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Для прибора без внутренних полостей могут потребоваться дополнительные методы испытаний. |
| Статус Н/Д | Действующий |
| Дата принятия в РТ | 01.01.1991 |
| Дата введения | 01.01.1991 |
| Разработчик Н/Д и его адрес | - |
| Категория | Каталог межгосударственных стандартов |
| Язык оригинала | Русский |
| Изменения | - |
| Кол-во страниц | 36 |
| Заказать |