| Название | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений |
|---|---|
| Аннотация |
Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения (метод I); резонансный метод с параллельным контуром (метод II); резонансный метод с последовательным контуром (метод III); мостовой метод (метод IV). Стандарт соответствует СТ СЭВ 2769-80 в части методов измерения динамического сопротивления. Взамен Заменённые ГОСТ 18986.14-75 ГОСТ 19656.8-74 |
| Статус Н/Д | Действующий |
| Дата принятия в РТ | 01.07.1986 |
| Дата введения | 01.07.1986 |
| Разработчик Н/Д и его адрес | - |
| Категория | Каталог межгосударственных стандартов |
| Язык оригинала | Русский |
| Изменения | - |
| Кол-во страниц | 16 |
| Заказать |