| Название | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь |
|---|---|
| Аннотация |
Стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: метод I - для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 СГц; методII - для туннельных диодов. Стандарт соответствует СТ СЭВ 3199-81 в части измерения сопротивления потерь варикапов и Публикации МЭК 147-2F в части принципа измерения последовательного сопротивления потерь туннельных диодов. Взамен Заменённые ГОСТ 18986.11-74 |
| Статус Н/Д | Действующий |
| Дата принятия в РТ | 01.07.1985 |
| Дата введения | 01.07.1985 |
| Разработчик Н/Д и его адрес | - |
| Категория | Каталог межгосударственных стандартов |
| Язык оригинала | Русский |
| Изменения | - |
| Кол-во страниц | 12 |
| Заказать |